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局部放電檢測常見的幾種試驗回路

更新時間:2024-04-05   點擊次數(shù):239次

局部放電測試系統(tǒng)試驗回路的一般要求,敘述了幾種用于測量局部放電參量的基本試驗回路,并介紹了這些回路和系統(tǒng)的工作原理。有關(guān)技術(shù)委員會還可以推薦用于特殊試品的特殊試驗回路。只要可能,建議有關(guān)技術(shù)委員會用視在電荷作為被測參量,但對特殊情況也可以使用別的參量。

如果有關(guān)技術(shù)委員會未作規(guī)定,則4.2所述的任何試驗回路以及第5章中所規(guī)定的任何測量系統(tǒng)均可使用。

試驗回路,用于局部放電測量的大多數(shù)回路可以由圖1a)~圖1d)所示的基本回路演變而來。圖2和圖3表示這些回路的一些變化,每個回路的組成主要有:


a) 試品,通常被認(rèn)為是一個電容器Ca(參見附錄D)。

b)耦合電容器Ck(應(yīng)設(shè)計為低電感電容),或第二個試品Cn1(類似于試品Ca)。在規(guī)定的試驗電壓下Ck或Ca1均應(yīng)具有足夠低的局部放電水平,以便對規(guī)定的局部放電值進行測量。如果一個測量系統(tǒng)能夠區(qū)分并分別測量來自試品和耦合電容器中的局部放電,那么允許Ck或Ca1具有較高的局部放電水平。


局部放電檢測常見的幾種試驗回路.jpg


c)帶輸人阻抗的測量系統(tǒng)(對平衡回路,還需要第二個輸入阻抗)。

d)背景噪聲足夠低的高壓電源(見第6章和第7章),以便在規(guī)定試驗電壓下對規(guī)定的局部放電值進行測量。

e)背景噪聲足夠低的高壓連接(見第6章和第7章),以便在規(guī)定試驗電壓下對規(guī)定的局部放電值進行測量。

f)有時在高壓端接人一個阻抗或濾波器,以減小來自供電電源的背景噪聲。



注:對于圖1~圖3所示的局部放電基本試驗回路,其測量系統(tǒng)的耦合裝置也可放在高壓端,即耦合裝置與Ca或Ck交換位置;這時可用光纜來連接耦合裝置和測量儀器,如圖1a)所示。

不同試驗回路的其他情況及特性可參見附錄C和附錄H。