一種新的方法將解決它。這種方法對(duì)于測量復(fù)雜機(jī)械組件中的接觸電阻非常有用。接觸電阻定義為觸點(diǎn)兩端的電壓與流過一對(duì)閉合觸點(diǎn)的電流之比。它符合歐姆定律。金屬 1 和金屬 2 之間有一個(gè)接口。來自電流源的電流 I 流過這個(gè)接口,可以從電流表中讀取。然后可以從電壓表讀取接口上的電壓降到 U。然后可以計(jì)算接觸電阻值Rx。
Rx=U/I
由于接觸電阻隨環(huán)境和電流的通過而變化,因此測量條件應(yīng)接近使用條件。準(zhǔn)確的測量必須使用四端測量技術(shù)和熱電動(dòng)勢消除技術(shù)。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個(gè)測試點(diǎn)、三個(gè)步驟和三個(gè)公式。該方法已被證明是正確的,也可用于校準(zhǔn)回路電阻標(biāo)準(zhǔn)。
接觸電阻測試的典型方法
四線(開爾文)直流電壓降是使用微歐表進(jìn)行接觸電阻測試的典型方法,通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準(zhǔn)確的測量。
接觸電阻測試使用兩個(gè)電流連接進(jìn)行注入和兩個(gè)電位引線進(jìn)行電壓降測量;電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接,并始終位于由連接的電流引線形成的電路內(nèi)。
基于電壓降的測量,微處理器控制的微歐表計(jì)算接觸電阻,同時(shí)消除連接中熱電動(dòng)勢 效應(yīng)可能產(chǎn)生的誤差(熱電動(dòng)勢是兩種不同金屬連接在一起時(shí)產(chǎn)生的小熱電偶電壓)如果不是通過不同的方法(極性反轉(zhuǎn)和平均,熱電動(dòng)勢的直接測量),它們將被添加到測量的總電壓降中。幅度等)從測量中減去它們,這會(huì)在接觸電阻測試中引入誤差。
如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時(shí)獲得低電阻讀數(shù),建議在更高電流下重新測試接觸。為什么我們會(huì)受益于使用更高的電流?較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化,在這些條件下,較低的電流可能會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤(較高)的讀數(shù)。
在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要,以便可以將其與以前和未來的結(jié)果進(jìn)行比較以進(jìn)行趨勢分析。因此,在進(jìn)行定期測量時(shí),必須在相同的位置、使用相同的測試線(始終使用制造商提供的校準(zhǔn)電纜)和相同的條件下進(jìn)行接觸電阻測試,以便知道何時(shí)連接、連接、焊接或設(shè)備將變得不安全。
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