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接觸電阻測試的典型方法

更新時(shí)間:2022-07-22   點(diǎn)擊次數(shù):875次

接觸電阻測試的典型方法


  四線(開爾文)直流電壓降是微歐表用于接觸電阻測試的典型方法,通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準(zhǔn)確的測量。


  接觸電阻測試使用兩個(gè)電流連接進(jìn)行注入,使用兩個(gè)電位引線進(jìn)行電壓降測量;電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接,并且始終位于連接的電流引線形成的電路內(nèi)。


  根據(jù)電壓降的測量,微處理器控制的微歐表計(jì)算接觸電阻,同時(shí)消除連接中的熱 EMF 效應(yīng)可能產(chǎn)生的誤差(熱 EMF 是兩種不同金屬連接在一起時(shí)產(chǎn)生的小熱電偶電壓)它們將被添加到測量的總電壓降中,如果不通過不同的方法(極性反轉(zhuǎn)和平均,直接測量熱 EMF 幅度等)從測量中減去它們,則會在接觸電阻測試中引入誤差。


  如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時(shí)獲得低電阻讀數(shù),則建議在更高電流下重新測試觸點(diǎn)。為什么我們會受益于使用更高的電流?較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化,在這些條件下,較低的電流可能會產(chǎn)生錯(cuò)誤的(較高的)讀數(shù)。


  在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要,以便能夠與之前和未來的結(jié)果進(jìn)行比較以進(jìn)行趨勢分析。因此,在進(jìn)行定期測量時(shí),必須在相同的位置、使用相同的測試引線(始終使用制造商提供的校準(zhǔn)電纜)和相同的條件下進(jìn)行接觸電阻測試,以便能夠知道何時(shí)連接、連接、焊接或設(shè)備將變得不安全。


  結(jié)論


  熱導(dǎo)率的測量也受到接觸電阻的影響,在通過顆粒介質(zhì)的熱傳輸中具有特別重要的意義。類似地,當(dāng)流體從一個(gè)通道過渡到另一個(gè)通道時(shí),靜水壓力(類似于電壓)會下降。


  接觸電阻測試提供有關(guān)接觸的健康程度及其處理額定電流的能力的信息。


  最大接觸電阻應(yīng)根據(jù)制造商的規(guī)格進(jìn)行驗(yàn)證。不應(yīng)超過額定電流,建議在額定電流的 10% 下進(jìn)行測試。